1、SJ/Z9154.1-87(IEC444-1(1986))用π网络零相位法测量石英晶体元件参数 **部分，频率和谐振电阻测量

    2、SJ/Z9154.2-87(IEC444-2)(1980)用π网络零相位法测量石英晶体元件参数   第二部分，相位偏置法测量动态电容

    3、SJ/Z9154.3-87(IEC444-3)用π网络零相位法测量石英晶体元件参数   第三部分，利用有并电容C0补偿的π型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的测量方法

    4、SJ/T11212-1999 (IEC444-69(1995)) 石英晶体元件参数测量   第6部分   激励电平相关性（DLD） 测量

    5、IEC68-2   环境试验   第二部分   各种试验

    6、GB2423   电工电子产品环境试验标准

    7、GJB360A-1996（MIL-STD-202F）电子及电气元件试验方法

    8、MIL-STD-883 微电子器件试验方法和程序